W Kielcach w ramach targów STOM odbył się Kongres Metrologia - szansa i wyzwanie przyszłości, współorganizowany przez Główny Urząd Miar. Jednym z prelegentów był prof. Michał Wieczorowski z Politechniki Poznańskiej z tematem: Digitalizacja jako podstawowy element Metrologii 4.0. W trakcie Kongresu Politechnika Poznańśka podpisała również akces do Klastra Metrologicznego