Wydawnictwo CAPH w Pekinie w 2022 roku opublikowało monografię „Introduction to Quantum Metrology” autorstwa Waldemara Nawrockiego, emerytowanego profesora Politechniki Poznańskiej. Książka poświęcona jest metrologii kwantowej, czyli pomiarom o największej dokładności, którą uzyskuje się korzystając z efektów fizyki kwantowej.
Książka stanowi tłumaczenie z języka angielskiego na chiński monografii „Introduction to Quantum Metrology” wydanej przez Springer (wydanie 2, 2019).
Jest to pierwsza na rynku księgarskim książka z opisem nowego, międzynarodowego systemu miar SI z 2018 r. Sam nowy system SI 2018 nazywany jest także Quantum SI. Książka jest polecana jako podręcznik do wykładów z metrologii.
Fot. 1. Lijia Guu, studentka Wydziału Informatyki i Telekomunikacji PP wraz z autorem książki
Fot. 2. Okładka monografii
Fot. 3. Książki „Wstęp do metrologii kwantowej” wydane przez Wydawnictwo PP (2007), Springer (wyd. 2, 2019) i CAPH (2022).
